CEL I ZAKRES TEMATYCZNY

Krajowa Konferencja Metrologii (KKM) adresowana jest do wszystkich osób zajmujących się metrologią we wszystkich aspektach praktycznych i teoretycznych. Szczególny nacisk kładziony jest na aspekt edukacyjny wyrażony w części szkolnej konferencji.

Obszar tematyczny Konferencji zawiera najistotniejsze aspekty współczesnej metrologii, takie jak:
- współczesne problemy metrologii ogólnej i teoretycznej,
- metrologia wielkości elektrycznych i nieelektrycznych w makro i nanoskali,
- sensory i systemy pomiarowe,
- kompatybilność elektromagnetyczna,
- cyfrowe przetwarzanie sygnałów i obrazów,
- sztuczna inteligencja,
- diagnostyka techniczna i medyczna,
- Internet rzeczy w metrologii,
- metrologia w Siłach Zbrojnych RP,
- dydaktyczne problemy metrologii.